第二回テーマ：『ナノ機械特性』『ナノ電気特性』
午前の講義と午後の実習に分け、じっくりと装置と向き合い、正確なオペレーションを身に着けていただくことが目的です。
F/dカーブは形状測定とは異なり、スキャンをせずにスキャナのZ軸を上下させてカンチレバーと試料表面を近づけたり離したりします。
C-AFMは、コンタクトモードベースとPinPointモードベースの2種類について、KPFMは、AM KPFMとSideband KPFMの2種類についてトレーニングいたします。サンプルや測定の目的に合わせたそれぞれの測定方法の使い分けについて習得していただけたらと思います。
〇対象 ：Park装置をお使いのユーザー様
〇開催日時：2023年6月15日（木）10：00～17：00 『ナノ機械特性』
2023年6月16日（金）10：00～17：00 『ナノ電気特性』
〇プログラム：
午前中のみのご参加もぜひお気軽にお申込みください。
〇開催場所 ：パーク・システムズ・ジャパン株式会社 デモルーム
〒101-0054 東京都千代田区神田錦町1-17-1 神田髙木ビル1階
東京メトロ半蔵門線 竹橋 3b出口 徒歩６分
JR 中央線 山手線 京浜東北線 神田 西口 徒歩９分
〇開催方法 ：現地開催
〇申込方法 ：以下フォームよりお申込みください。
実習は定員（6名/各日）を設けております。満席になる可能性がございますのでご了承ください。
〇お問い合わせ先：パーク・システムズ・ジャパン株式会社 担当：徳升
☎：03-3219-1001 ✉：[email protected]
Ferroelectricity is observed in hexagonal boron nitride(hBN) through control of the registry of stacked layers, which we explore through both amplitude-modulated and sideband Kelvin probe force microscopy (KPFM) on the Park FX40 automatic AFM.
A schematic of the formation of parallel stacked bilayer hBN is shown in addition to a contact potential difference map measured using sideband KPFM.
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James received his PhD in Physics from the University of Nottingham in 2018, studying the morphology and optical properties of monolayers of self-assembled molecules and their heterostructures. He then went on to work as a postdoctoral researcher, also at the University of Nottingham, working on the formation of hybrid heterostructures of molecular assemblies and layered materials demonstrating both electroluminescence and selective triplet excitation. In 2020, James took up a position as a postdoctoral researcher at the Cambridge Graphene Centre, using scanning probe microscopy and optical spectroscopy to study electrostatics and optical properties of layered materials heterostructures with controlled twist angle and their scalable incorporation into integrated photonic circuits. Since January 2022, James has been a member of the Park Systems team as an applications scientist, supporting customers with interest ranging from fundamental physics to industrial scale production in the application of a diverse range of scanning probe microscopy techniques to gain insightful results.