Park Systems Webinar
KPFM의 기본 원리 및 응용
(KPFM: Kelvin Probe Force Microscopy)
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원자현미경(AFM)은 탐침과 시료 사이의 원자 간 힘을 사용하여 시료 표면의 형상을 측정함과 동시에 시료가 가지고 있는 전기적, 자기적, 기계적 및 열적 특성 등에 대한 연구를 가능하게 합니다.
이와 같은 측정의 범용성으로 AFM은 최근 다양한 연구 분야에서 활발하게 사용되고 있습니다.
그 중 시료가 가지고 있는 Potential 및 Work function을 확인할 수 있는 KPFM은 다양한 물질의 전기적 특성과 관련된 연구에 큰 기여를 하고 있습니다.
KPFM은 탐침과 시료 사이에 존재하는 Contact Potential Difference (CPD)를 상쇄시키기 위하여 전도성 탐침에 CPD만큼 DC 전압을 인가하게 됩니다. 이때 탐침에 인가한 DC 전압 값은 시료와 탐침 사이의 Potential을 의미하게 됩니다.
KPFM은 신호를 검출하기 위해 사용하는 주파수에 따라 여러 모드들이 존재하며 대표적으로 Off-resonance KPFM과 Sideband KPFM이 있습니다.
이번 웨비나에서는 KPFM에 대한 기본 이론과 측정 방법을 소개하며, Off-resonance KPFM와 Sideband KPFM의 측정 원리 및 결과의 비교 분석도 다룰 예정이니 많은 관심과 참여 바랍니다.
*언어: 한국어
MoS2
Height
MoS2
Potential (FM-KPFM)
MoS2
Potential (AM-KPFM)
CVD grown WS2
Height
CVD grown WS2
Work function
정동환 | Application Scientist
Park Systems, Application Technology Center
정동환 연구원은 파크시스템스 본사 Application Technology Center의 Application Scientist로 AFM 측정, 장비 테스트, AFM 모드 개발 등 다양한 활동에 참여하고 있으며, 전문 분야는 KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy)입니다.
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