初めてのAFM
原子間力顕微鏡の基礎講座
パーク・システムズ ウェビナー | #16
パーク・システムズ・ジャパンでは、今年も日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを開催いたします。
これからAFMを始められるご予定の方、使ったことはあるけれど原理やオペレーションのコツを詳しく知りたいと思っていらっしゃる方、測定はしているけれど出てきた結果に自信が無いと思っていらっしゃる方、そして、ノンコンタクトモードって何?と思っていらっしゃる方、頭の中を少し整理して、日頃のモヤモヤを解消していただけるチャンスです。AFMの定義、特徴、動作原理、3つの基本モード(ノンコンタクトモード、コンタクトモード、タッピングモード)とそれらの使い分け、プローブを含むハードウエア、ソフトウエア、オペレーションノウハウなど、皆さんのお知りになりたいことを満載してお届けいたします。今回の基礎コースに続きまして、アプリケーション紹介ウェビナも開催予定ですので、併せてご参加ください。皆様のナノ領域のご評価、ご研究に少しでもお役に立てればと思っております。
System: NX20
System: NX20
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後藤 千絵
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
技術部 分析チーム
1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、 千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、 ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。