開催場所：6月18日(火) 東京都市大学 世田谷キャンパス
6月20日(木) 関東学院大学 横浜・金沢八景キャンパス
開催時間：10:00ー15:45（15:45－17:00 フリータイム）
![2024-05-08 [CM] PSJ_Roadshow_thumbnail_ver01.jpg](https://pages.parksystems.com/rs/988-FTP-549/images/2024-05-08 %5BCM%5D PSJ_Roadshow_thumbnail_ver01.jpg)
次世代の新機能を搭載した自動化AFM＜Park Systems社製装置FX40＞ロードショーを行います！
最新の研究用AFM装置でサンプル測定を行ってみませんか？
6月18日(火)に東京都市大学、20日(木)には関東学院大学にFX40がやってまいります！
「AFMを導入したいがどれがいいかわからない…」「ご自身のサンプルがAFM測定できるか試してみたい」「最新の機能を搭載したAFMを見てみたい」等々、Parkのアプリケーション担当者が装置や測定の具体的な方法について、レクチャーとハンズオンで丁寧に説明いたします。ご興味がある方はぜひこの機会にご参加ください。
▽ 開催内容
| 10:00ー10:45 | Opening, Welcome Speech (本社アプリケーションサイエンティスト Jake KIM) |
| 10:45ー11:30 |
FX40について（パーク・システムズ・ジャパン アプリケーションスペシャリスト 後藤 千絵）
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| 11:30ー12:20 | お昼休憩 |
| 12:30ー15:45 | オープンデモ測定 |
| 15:45ー17:00 |
フリータイム(質疑応答、装置見学など）
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★オープンデモ測定
＊受付は先着順とさせていただき、別途リクエストフォームをお送りいたします。
▼ 申込方法
▼ お問合せ先
Ferroelectricity is observed in hexagonal boron nitride(hBN) through control of the registry of stacked layers, which we explore through both amplitude-modulated and sideband Kelvin probe force microscopy (KPFM) on the Park FX40 automatic AFM.
A schematic of the formation of parallel stacked bilayer hBN is shown in addition to a contact potential difference map measured using sideband KPFM.
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James received his PhD in Physics from the University of Nottingham in 2018, studying the morphology and optical properties of monolayers of self-assembled molecules and their heterostructures. He then went on to work as a postdoctoral researcher, also at the University of Nottingham, working on the formation of hybrid heterostructures of molecular assemblies and layered materials demonstrating both electroluminescence and selective triplet excitation. In 2020, James took up a position as a postdoctoral researcher at the Cambridge Graphene Centre, using scanning probe microscopy and optical spectroscopy to study electrostatics and optical properties of layered materials heterostructures with controlled twist angle and their scalable incorporation into integrated photonic circuits. Since January 2022, James has been a member of the Park Systems team as an applications scientist, supporting customers with interest ranging from fundamental physics to industrial scale production in the application of a diverse range of scanning probe microscopy techniques to gain insightful results.