初めてのAFM
電気特性の基礎講座
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パーク・システムズ ウェビナー | #17
日本の新年度、新学期に合わせまして「初めてのAFM ウェビナーシリーズ」を実施中ですが、前回の「AFMの基礎講座」に引き続き電気特性に関するアプリケーションをご紹介します。
前回のウェビナーにて3種類の形状測定モードをご紹介しましたが、電気特性は検出したい信号によって、ベースとなる形状測定モードが異なります。例えば、コンダクティブAFM(電流測定)ならベースはコンタクトモード、表面電位測定ならベースはノンコンタクトモードとなります。ウェビナーの内容といたしましては、STM(トンネル顕微鏡)、静電気力顕微鏡、表面電位、圧電応答、電流測定、拡がり抵抗、キャパシタンス顕微鏡、フォトカレント、磁気力顕微鏡の原理を初心者向けに解説、スペクトロスコピーやそれぞれのモードによる測定結果について、プローブの選び方など、今回も盛りだくさんですが分かり易く説明いたします。
Ferromagnetic Nanobars Array
System: NX10
Scan Mode: MFM
Scan Size: 7µm x 7µm
Current Measurement on SRAM
System: NX20
Scan Mode: C-AFM
Scan Size: 1.5µm x 1.5µm
Monolayer Graphene on Hexagonal Boron Nitride
System: NX10
Scan Mode: CR-PFM
Scan Size: 100nm ×100 nm2
Self-assembled Monolayer (SAM) on Au
System: NX10
Scan Mode: STM
Scan Size: 0.2µm x 0.2µm
Image caption
後藤 千絵
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
技術部 分析チーム
1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、 千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、 ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。
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